Magphan SMR170磁共振性能檢測(cè)模體詳細(xì)介紹：

　　Magphan SMR170磁共振性能檢測(cè)模體被設(shè)計(jì)用于執(zhí)行磁共振成像（MRI）掃描儀的各種性能評(píng)估。Magphan SMR170磁共振性能檢測(cè)模體有一個(gè)傳統(tǒng)的圓柱形外殼，用于測(cè)試組和制造商，他們的性能規(guī)格基于圓柱形模體。它有一個(gè)可移動(dòng)的端板用于內(nèi)部訪問(wèn)。該壓克力圓柱體的外徑為20厘米，內(nèi)徑為19厘米。

　　1. 外型及尺寸：

　　圓柱形，外徑200mm，壁厚5mm，100mm立方體測(cè)試插件

　　2. 檢測(cè)項(xiàng)目

　　空間均勻性，掃描層厚/層間距，患者準(zhǔn)直定位系統(tǒng)驗(yàn)證，空間分辨率-11lp/cm(0.45mm 分辨率)，幾何畸變率（空間線性），信噪比（SNR），低對(duì)比靈敏度，T1和T2弛豫時(shí)間值測(cè)量，三維像素尺寸評(píng)估，樣本測(cè)試

　　3. 構(gòu)成材料：

　　外殼：有機(jī)玻璃（聚甲基丙烯酸甲酯）

　　4. 測(cè)試配比溶液要求:

　　1升蒸餾水+1.955克五水硫酸銅+3.6克氯化鈉

　　符合美國(guó)醫(yī)學(xué)物理學(xué)家協(xié)會(huì)AAPM Report No.28，1990推薦的技術(shù)要求，能滿足對(duì)磁共振的軸向面、冠狀面、矢狀面成像性能的檢測(cè)。

　　測(cè)試項(xiàng)目：（包括但不限于以下內(nèi)容）信噪比、空間均勻性、球面幾何及幾何畸變率（空間線性）、像素尺寸、層厚/層間距、患者準(zhǔn)直定位系統(tǒng)、空間分辨率（1~11）Lp/cm共11組、低對(duì)比分辨率、T1和T2弛豫時(shí)間等。

　　有關(guān)Magphan SMR170磁共振性能檢測(cè)模體詳細(xì)信息，請(qǐng)參閱Magphan®手冊(cè)。

　　測(cè)試立方體：圓柱形和球形的Magphan®使用10cm測(cè)試立方體進(jìn)行圖像質(zhì)量測(cè)量。測(cè)試立方體由6毫米厚的聚碳酸酯塑料制成，外徑為10厘米。測(cè)試立方體包含切片厚度斜面，sensitometry小瓶，高分辨率測(cè)試板和一個(gè)低對(duì)比度盤(pán)。

配置：測(cè)試立方體板可以在標(biāo)準(zhǔn)的2-D配置組裝，與雙相對(duì)切片厚度斜面允許操作員迅速驗(yàn)證模體的z軸被地排列垂直于成象平面。尼龍螺絲將單元固定在一起，允許您將測(cè)試板或立方體側(cè)面更改為三維結(jié)構(gòu)。3-D配置允許從單個(gè)數(shù)據(jù)采集獲得x，y和z切片幾何測(cè)量結(jié)果

　　Magphan SMR170磁共振性能檢測(cè)模體測(cè)試總結(jié):

　　測(cè)試立方體和模體外殼包含允許全面測(cè)試大可實(shí)現(xiàn)的關(guān)鍵MRI掃描儀參數(shù)的功能。下面列出了他們支持的主要組件和測(cè)試。

　　切片厚度斜面

　　- 模體位置

　　- 掃描切片寬度

　　- 多切片間距和鄰接度

　　- 患者對(duì)齊（3D）

　　- 表增量準(zhǔn)確度

　　Sensitometry小瓶

　　- T1測(cè)量

　　- T2測(cè)量

　　高分辨率測(cè)試板

　　- 高分辨率測(cè)量（每厘米1至11線對(duì)）

　　- 幾何失真

　　多維數(shù)據(jù)集支持磁盤(pán)

　　- 幾何失真

　　- 像素（矩陣）大小驗(yàn)證

　　外殼

　　- 空間均勻性

　　- 信噪比

　　Magphan SMR170磁共振性能檢測(cè)模體的組件:

　　切片厚度斜面：切片厚度斜面安裝在測(cè)試立方體的外部。斜面厚度為2mm，寬度為10mm，與模體的軸線成14°的角度，為切片寬度測(cè)量提供了4倍的放大倍數(shù)。在立方體的測(cè)試平面的中心處相對(duì)的斜面交叉以進(jìn)行對(duì)齊驗(yàn)證。斜坡可以用于測(cè)試多層片段內(nèi)的片之間的索引以及用于測(cè)試表增量準(zhǔn)確性。

　　感光測(cè)定瓶：感光測(cè)定樣品儲(chǔ)存在四個(gè)圓柱形小瓶中，其外徑為1.9厘米，內(nèi)徑為1.6厘米。T1和T2的測(cè)量可以通過(guò)立方體外側(cè)的0.6厘米（1/4英寸）端口將小瓶填充各種溶液。

　　高分辨率測(cè)試板：高分辨率測(cè)量?jī)x被切割成2毫米厚的丙烯酸板，由測(cè)試立方體內(nèi)的通道支撐。高分辨率測(cè)試是通過(guò)使用一系列矩形槽來(lái)完成的，測(cè)試圖形的范圍為每厘米1至11線對(duì)（5mm至0.45mm分辨率）。每厘米1至4線對(duì)之間的測(cè)試槽長(zhǎng)度為1.25厘米，測(cè)試長(zhǎng)度為0.9厘米，涉及每厘米5至11線對(duì)。

　　為了測(cè)試幾何失真（空間線性），3mm的孔以2cm，4cm和8cm的方形圖案間隔開(kāi)。系統(tǒng)的幾何失真可以通過(guò)測(cè)量這些孔之間的距離來(lái)評(píng)估。

　　低對(duì)比度光盤(pán)：低對(duì)比度敏感度是用安裝在測(cè)試立方體底座上的丙烯酸光盤(pán)進(jìn)行的。光盤(pán)中的圓形凹槽通過(guò)音量平均產(chǎn)生低對(duì)比度圖像。四組三個(gè)圓形凹槽的深度分別為0.5mm，0.75mm，1.0mm和2.0mm，直徑分別為4mm，6mm和10mm。

　　多維數(shù)據(jù)集支持磁盤(pán)：兩片多維數(shù)據(jù)集支持磁盤(pán)容納模體外殼內(nèi)的立方體，可以很容易地安裝和移除。在固定測(cè)試立方體的位置的同時(shí)，支撐盤(pán)為空間線性測(cè)量提供信息。

　　通過(guò)測(cè)量Magphan®在x和y方向上的直徑來(lái)測(cè)試幾何變形。幾何失真也可以通過(guò)測(cè)量支撐盤(pán)上配置為8cm，10cm和12cm正方形的3mm孔之間的距離來(lái)評(píng)估。

　　外殼：外殼組件由外殼和立方體支撐盤(pán)（支撐10cm測(cè)試立方體）組成。可以使用帶有測(cè)試立方體和支撐盤(pán)的模體外殼進(jìn)行全面的空間均勻性測(cè)量。外殼很容易清潔，并允許使用凝膠以及液體溶液。排水時(shí)，多個(gè)端口允許不受限制的流量。

　　注意：Magphan SMR170 MRI性能模體不提供造影劑填充解決方案。客戶需要添加他們自己的填充解決方案。